TY  - RPRT
TI  - Thermal Boundary Resistance Measurement and Analysis Across SiC/SiO2 Interface
AU  - Shichen Deng
AU  - Chengdi Xiao
AU  - Jiale Yuan
AU  - Dengke Ma
AU  - Junhui Li
AU  - Nuo Yang
AU  - Hu He
PY  - 2025
DO  - 10.1063/1.5111157
UR  - https://arxiv.org/abs/1905.08570
ID  - 1905.08570
ER  -