TY  - RPRT
TI  - Electrically driven optical interferometry with spins in silicon carbide
AU  - Kevin C. Miao
AU  - Alexandre Bourassa
AU  - Christopher P. Anderson
AU  - Samuel J. Whiteley
AU  - Alexander L. Crook
AU  - Sam L. Bayliss
AU  - Gary Wolfowicz
AU  - Gergo Thiering
AU  - Peter Udvarhelyi
AU  - Viktor Ivady
AU  - Hiroshi Abe
AU  - Takeshi Ohshima
AU  - Adam Gali
AU  - David D. Awschalom
PY  - 2019
DO  - 10.1126/sciadv.aay0527
UR  - https://arxiv.org/abs/1905.12780
ID  - 1905.12780
ER  -