TY  - RPRT
TI  - Layer-Resolved Ultrafast XUV Measurement of Hole Transport in a Ni-TiO2-Si Photoanode
AU  - Scott K. Cushing
AU  - Ilana J. Porter
AU  - Bethany R. Lamoureux
AU  - Angela Lee
AU  - Brett M. Marsh
AU  - Szilard Szoke
AU  - Mihai E. Vaida
AU  - Stephen R. Leone
PY  - 2019
UR  - https://arxiv.org/abs/1905.13097
ID  - 1905.13097
ER  -