TY  - RPRT
TI  - Morphological and electrical properties of Nickel based Ohmic contacts formed by laser annealing process on n-type 4H-SiC
AU  - S. Rascunà
AU  - P. Badalà
AU  - C. Tringali
AU  - C. Bongiorno
AU  - E. Smecca
AU  - A. Alberti
AU  - S. Di Franco
AU  - F. Giannazzo
AU  - G. Greco
AU  - F. Roccaforte
AU  - M. Saggio
PY  - 2019
DO  - 10.1016/j.mssp.2019.02.031
UR  - https://arxiv.org/abs/1906.03089
ID  - 1906.03089
ER  -