TY  - RPRT
TI  - The Electronic Thickness of Graphene
AU  - Peter Rickhaus
AU  - Ming-Hao Liu
AU  - Marcin Kurpas
AU  - Annika Kurzmann
AU  - Yongjin Lee
AU  - Hiske Overweg
AU  - Marius Eich
AU  - Riccardo Pisoni
AU  - Takashi Tamaguchi
AU  - Kenji Wantanabe
AU  - Klaus Richter
AU  - Klaus Ensslin
AU  - Thomas Ihn
PY  - 2019
DO  - 10.1126/sciadv.aay8409
UR  - https://arxiv.org/abs/1907.00582
ID  - 1907.00582
ER  -