TY  - RPRT
TI  - Thickness determination of MoS2, MoSe2, WS2 and WSe2 on transparent stamps used for deterministic transfer of 2D materials
AU  - Najme S. Taghavi
AU  - Patricia Gant
AU  - Peng Huang
AU  - Iris Niehues
AU  - Robert Schmidt
AU  - Steffen Michaelis de Vasconcellos
AU  - Rudolf Bratschitsch
AU  - Mar García-Hernández
AU  - Riccardo Frisenda
AU  - Andres Castellanos-Gomez
PY  - 2019
DO  - 10.1007/s12274-019-2424-6
UR  - https://arxiv.org/abs/1907.07365
ID  - 1907.07365
ER  -