TY  - RPRT
TI  - Cálculo de constantes ópticas de peliculas delgadas de Silicio compensado a través del método de Swanepoel
AU  - W. A. Rojas C.
AU  - M. Chaparro P.
AU  - L. M. Pardo C.
AU  - M. I. Cruz F.
PY  - 2019
UR  - https://arxiv.org/abs/1908.00359
ID  - 1908.00359
ER  -