TY  - RPRT
TI  - A semi-analytical approach for the characterization of ordered 3D nano structures using grazing-incidence X-ray fluorescence
AU  - K. V. Nikolaev
AU  - V. Soltwisch
AU  - P. Hoenicke
AU  - F. Scholze
AU  - J. de la Rie
AU  - S. N. Yakunin
AU  - I. A. Makhotkin
AU  - R. W. E. van de Kruijs
AU  - F. Bijkerk
PY  - 2019
DO  - 10.1107/s1600577519016345
UR  - https://arxiv.org/abs/1908.11452
ID  - 1908.11452
ER  -