TY  - RPRT
TI  - Integrating high-quality dielectrics with one-nanometer equivalent oxide thickness on two-dimensional electronic devices
AU  - Weisheng Li
AU  - Jian Zhou
AU  - Songhua Cai
AU  - Zhihao Yu
AU  - Jialin Zhang
AU  - Nan Fang
AU  - Taotao Li
AU  - Yun Wu
AU  - Tangsheng Chen
AU  - Xiaoyu Xie
AU  - Haibo Ma
AU  - Ke Yan
AU  - Ningxuan Dai
AU  - Xiangjin Wu
AU  - Huijuan Zhao
AU  - Zixuan Wang
AU  - Daowei He
AU  - Lijia Pan
AU  - Yi Shi
AU  - Peng Wang
AU  - Wei Chen
AU  - Kosuke Nagashio
AU  - Xiangfeng Duan
AU  - Xinran Wang
PY  - 2019
UR  - https://arxiv.org/abs/1909.09753
ID  - 1909.09753
ER  -