TY  - RPRT
TI  - Measuring the Impact Ionization and Charge Trapping Probabilities in SuperCDMS HVeV Phonon Sensing Detectors
AU  - F. Ponce
AU  - W. Page
AU  - P. L. Brink
AU  - B. Cabrera
AU  - M. Cherry
AU  - C. Fink
AU  - N. Kurinsky
AU  - R. Partridge
AU  - M. Pyle
AU  - B. Sadoulet
AU  - B. Serfass
AU  - C. Stanford
AU  - S. L. Watkins
AU  - S. Yellin
AU  - B. A. Young
PY  - 2019
DO  - 10.1103/physrevd.101.031101
UR  - https://arxiv.org/abs/1910.02162
ID  - 1910.02162
ER  -