TY  - RPRT
TI  - Fast Fitting of Reflectivity Data of Growing Thin Films Using Neural Networks
AU  - Alessandro Greco
AU  - Vladimir Starostin
AU  - Christos Karapanagiotis
AU  - Alexander Hinderhofer
AU  - Alexander Gerlach
AU  - Linus Pithan
AU  - Sascha Liehr
AU  - Frank Schreiber
AU  - Stefan Kowarik
PY  - 2019
UR  - https://arxiv.org/abs/1910.02898
ID  - 1910.02898
ER  -