TY  - RPRT
TI  - A realistic dimension-independent approach for charged defect calculations in semiconductors
AU  - Jin Xiao
AU  - Kaike Yang
AU  - Dan Guo
AU  - Tao Shen
AU  - Jun-Wei Luo
AU  - Shu-Shen Li
AU  - Su-Huai Wei
AU  - Hui-Xiong Deng
PY  - 2019
DO  - 10.1103/physrevb.101.165306
UR  - https://arxiv.org/abs/1910.08762
ID  - 1910.08762
ER  -