TY  - RPRT
TI  - Investigation of gating effect in Si spin MOSFET
AU  - Soobeom Lee
AU  - Fabien Rortais
AU  - Ryo Ohshima
AU  - Yuichiro Ando
AU  - Minori Goto
AU  - Shinji Miwa
AU  - Yoshishige Suzuki
AU  - Hayato Koike
AU  - Masashi Shiraishi
PY  - 2019
DO  - 10.1063/1.5131823
UR  - https://arxiv.org/abs/1910.13072
ID  - 1910.13072
ER  -