TY  - RPRT
TI  - Stacking Order in Graphite Films Controlled by Van der Waals Technology
AU  - Yaping Yang
AU  - Yi-Chao Zou
AU  - Colin R. Woods
AU  - Yanmeng Shi
AU  - Jun Yin
AU  - Shuigang Xu
AU  - Servet Ozdemir
AU  - Takashi Taniguchi
AU  - Kenji Watanabe
AU  - Andre K. Geim
AU  - Kostya S. Novoselov
AU  - Sarah J. Haigh
AU  - Artem Mishchenko
PY  - 2019
DO  - 10.1021/acs.nanolett.9b03014
UR  - https://arxiv.org/abs/1911.00485
ID  - 1911.00485
ER  -