TY  - RPRT
TI  - Thickness-dependent in-plane polarization and structural phase transition in van der Waals Ferroelectric CuInP2S6
AU  - Jianming Deng
AU  - Yanyu Liu
AU  - Mingqiang Li
AU  - Sheng Xu
AU  - Yingzhuo Lun
AU  - Peng Lv
AU  - Tianlong Xia
AU  - Peng Gao
AU  - Xueyun Wang
AU  - Jiawang Hong
PY  - 2019
DO  - 10.1002/smll.201904529
UR  - https://arxiv.org/abs/1911.08639
ID  - 1911.08639
ER  -