TY  - RPRT
TI  - Reliability studies of electronic components for the operation at cryogenic temperature
AU  - N. Poonthottathil
AU  - F. Krennrich
AU  - J. Eisch
AU  - A. Weinstein
AU  - L. J Bond
AU  - D. Barnard
AU  - Z. Zhang
AU  - L Koester
PY  - 2019
UR  - https://arxiv.org/abs/1911.10285
ID  - 1911.10285
ER  -