TY  - RPRT
TI  - RESCUE: Interdependent Challenges of Reliability, Security and Quality in Nanoelectronic Systems
AU  - Maksim Jenihhin
AU  - Said Hamdioui
AU  - Matteo Sonza Reorda
AU  - Milos Krstic
AU  - Peter Langendoerfer
AU  - Christian Sauer
AU  - Anton Klotz
AU  - Michael Huebner
AU  - Joerg Nolte
AU  - Heinrich Theodor Vierhaus
AU  - Georgios Selimis
AU  - Dan Alexandrescu
AU  - Mottaqiallah Taouil
AU  - Geert-Jan Schrijen
AU  - Jaan Raik
AU  - Luca Sterpone
AU  - Giovanni Squillero
AU  - Zoya Dyka
PY  - 2019
UR  - https://arxiv.org/abs/1912.01561
ID  - 1912.01561
ER  -