TY  - RPRT
TI  - Gate reflectometry for probing charge and spin states in linear Si MOS split-gate arrays
AU  - L. Hutin
AU  - B. Bertrand
AU  - E. Chanrion
AU  - H. Bohuslavskyi
AU  - F. Ansaloni
AU  - T. -Y. Yang
AU  - J. Michniewicz
AU  - D. J. Niegemann
AU  - C. Spence
AU  - T. Lundberg
AU  - A. Chatterjee
AU  - A. Crippa
AU  - J. Li
AU  - R. Maurand
AU  - X. Jehl
AU  - M. Sanquer
AU  - M. F. Gonzalez-Zalba
AU  - F. Kuemmeth
AU  - Y. -M. Niquet
AU  - S. De Franceschi
AU  - M. Urdampilleta
AU  - T. Meunier
AU  - M. Vinet
PY  - 2019
UR  - https://arxiv.org/abs/1912.10884
ID  - 1912.10884
ER  -