TY  - RPRT
TI  - Impact of stacking faults and domain boundaries on the electronic transport in cubic silicon carbide probed by conductive atomic force microscopy
AU  - F. Giannazzo
AU  - G. Greco
AU  - S. Di Franco
AU  - P. Fiorenza
AU  - I. Deretzis
AU  - A. La Magna
AU  - C. Bongiorno
AU  - M. Zimbone
AU  - F. La Via
AU  - M. Zielinski
AU  - F. Roccaforte
PY  - 2020
DO  - 10.1002/aelm.201901171
UR  - https://arxiv.org/abs/1912.12326
ID  - 1912.12326
ER  -