TY  - RPRT
TI  - Electron trapping at SiO2/4H-SiC interface probed by transient capacitance measurements and atomic resolution chemical analysis
AU  - Patrick Fiorenza
AU  - Ferdinando Iucolano
AU  - Giuseppe Nicotra
AU  - Corrado Bongiorno
AU  - Ioannis Deretzis
AU  - Antonino La Magna
AU  - Filippo Giannazzo
AU  - Mario Saggio
AU  - Corrado Spinella
AU  - Fabrizio Roccaforte
PY  - 2020
DO  - 10.1088/1361-6528/aad129
UR  - https://arxiv.org/abs/2001.04712
ID  - 2001.04712
ER  -