TY  - RPRT
TI  - Atomic-scale insights into semiconductor heterostructures: from experimental three-dimensional analysis of the interface to a generalized theory of interface roughness scattering
AU  - T. Grange
AU  - S. Mukherjee
AU  - G. Capellini
AU  - M. Montanari
AU  - L. Persichetti
AU  - L. Di Gaspare
AU  - S. Birner
AU  - A. Attiaoui
AU  - O. Moutanabbir
AU  - M. Virgilio
AU  - M. De Seta
PY  - 2020
DO  - 10.1103/physrevapplied.13.044062
UR  - https://arxiv.org/abs/2002.00851
ID  - 2002.00851
ER  -