TY  - RPRT
TI  - Low-frequency noise parameter extraction method for single layer graphene FETs
AU  - Nikolaos Mavredakis
AU  - Wei Wei
AU  - Emiliano Pallecchi
AU  - Dominique Vignaud
AU  - Henri Happy
AU  - Ramon Garcia Cortadella
AU  - Nathan Schaefer
AU  - Andrea Bonaccini Calia
AU  - Jose Antonio Garrido
AU  - David Jimenez
PY  - 2020
DO  - 10.1109/ted.2020.2978215
UR  - https://arxiv.org/abs/2002.01666
ID  - 2002.01666
ER  -