TY  - RPRT
TI  - The Layer-inserting Growth of Antiferromagnetic Topological Insulator MnBi$_2$Te$_4$ Based on Symmetry and Its X-ray Photoelectron Spectroscopy
AU  - Fei Jiao
AU  - Jingfeng Wang
AU  - Xianyu Wang
AU  - Meixia Chang
AU  - Lingbo Cai
AU  - Shu Zhu
AU  - Di Zhang
AU  - Qing Lu
AU  - Cao Wang
AU  - Shugang Tan
AU  - Yunlong Li
AU  - Jiayuan Hu
AU  - Qiang Jing
AU  - Bo Liu
AU  - Dong Qian
PY  - 2020
UR  - https://arxiv.org/abs/2002.07390
ID  - 2002.07390
ER  -