TY - RPRT TI - Strain Wave Pathway to Semiconductor-to-Metal Transition revealed by time resolved X-ray powder diffraction AU - C. Mariette AU - M. Lorenc AU - H. Cailleau AU - E. Collet AU - L. Guérin AU - A. Volte AU - E. Trzop AU - R. Bertoni AU - X. Dong AU - B. Lépine AU - O Hernandez AU - E. Janod AU - L. Cario AU - V. Ta Phuoc AU - S. Ohkoshi AU - H. Tokoro AU - L. Patthey AU - A. Babic AU - I. Usov AU - D. Ozerov AU - L. Sala AU - S. Ebner AU - P. Böhler AU - A Keller AU - A. Oggenfuss AU - T. Zmofing AU - S. Redford AU - S. Vetter AU - R. Follath AU - P. Juranic AU - A. Schreiber AU - P. Beaud AU - V. Esposito AU - Y Deng AU - G. Ingold AU - M. Chergui AU - G. F. Mancini AU - R. Mankowsky AU - C. Svetina AU - S. Zerdane AU - A. Mozzanica AU - M. Wulff AU - M. Levantino AU - H. Lemke AU - M. Cammarata PY - 2020 DO - 10.1038/s41467-021-21316-y UR - https://arxiv.org/abs/2002.08152 ID - 2002.08152 ER -