TY  - RPRT
TI  - Cryogenic Characterization of 180 nm CMOS Technology at 100 mK
AU  - Roger Huang
AU  - Dario Gnani
AU  - Carl Grace
AU  - Yury Kolomensky
AU  - Yuan Mei
AU  - Aikaterini Papadopoulou
PY  - 2020
DO  - 10.1088/1748-0221/15/06/p06026
UR  - https://arxiv.org/abs/2003.00207
ID  - 2003.00207
ER  -