TY  - RPRT
TI  - Quantifying Defects in Thin Films using Machine Vision
AU  - Nina Taherimakhsousi
AU  - Benjamin P. MacLeod
AU  - Fraser G. L. Parlane
AU  - Thomas D. Morrissey
AU  - Edward P. Booker
AU  - Kevan E. Dettelbach
AU  - Curtis P. Berlinguette
PY  - 2020
UR  - https://arxiv.org/abs/2003.04860
ID  - 2003.04860
ER  -