TY  - RPRT
TI  - Topological Hall effect in single thick SrRuO3 layers induced by defect engineering
AU  - Changan Wang
AU  - Ching-Hao Chang
AU  - Andreas Herklotz
AU  - Chao Chen
AU  - Fabian Ganss
AU  - Ulrich Kentsch
AU  - Deyang Chen
AU  - Xingsen Gao
AU  - Yu-Jia Zeng
AU  - Olav Hellwig
AU  - Manfred Helm
AU  - Sibylle Gemming
AU  - Ying-Hao Chu
AU  - Shengqiang Zhou
PY  - 2020
DO  - 10.1002/aelm.202000184
UR  - https://arxiv.org/abs/2004.11301
ID  - 2004.11301
ER  -