TY  - RPRT
TI  - Thickness dependence of electronic and crystal structures in VO$_2$ ultrathin films: suppression of the collaborative Mott-Peierls transition
AU  - D. Shiga
AU  - B. E. Yang
AU  - N. Hasegawa
AU  - T. Kanda
AU  - R. Tokunaga
AU  - K. Yoshimatsu
AU  - R. Yukawa
AU  - M. Kitamura
AU  - K. Horiba
AU  - H. Kumigashira
PY  - 2020
DO  - 10.1103/physrevb.102.115114
UR  - https://arxiv.org/abs/2005.00304
ID  - 2005.00304
ER  -