TY  - RPRT
TI  - Grazing incidence-X-ray fluorescence for a dimensional and elemental characterization of well-ordered nanostructures
AU  - Philipp Hönicke
AU  - Anna Andrle
AU  - Yves Kayser
AU  - Konstantin V. Nikolaev
AU  - Jürgen Probst
AU  - Frank Scholze
AU  - Victor Soltwisch
AU  - Thomas Weimann
AU  - Burkhard Beckhoff
PY  - 2020
DO  - 10.1088/1361-6528/abb557
UR  - https://arxiv.org/abs/2005.02078
ID  - 2005.02078
ER  -