TY  - RPRT
TI  - Radiation hardness of GaAs: Cr and Si sensors irradiated by electron beam
AU  - U. Kruchonak
AU  - S. Abou El-Azm
AU  - K. Afanaciev
AU  - G. Chelkov
AU  - M. Demichev
AU  - M. Gostkin
AU  - A. Guskov
AU  - E. Firu
AU  - V. Kobets
AU  - A. Leyva
AU  - d
AU  - A. Nozdrin
AU  - S. Porokhovoy
AU  - A. Sheremetyeva
AU  - P. Smolyanskiy
AU  - A. Torres
AU  - A. Tyazhev
AU  - O. Tolbanov
AU  - N. Zamyatin
AU  - A. Zarubin
AU  - A. Zhemchugov
PY  - 2020
DO  - 10.1016/j.nima.2020.164204
UR  - https://arxiv.org/abs/2006.01254
ID  - 2006.01254
ER  -