TY  - RPRT
TI  - Spectroscopic thickness and quality metrics for PtSe$_2$ layers produced by top-down and bottom-up techniques
AU  - Beata M. Szydłowska
AU  - Oliver Hartwig
AU  - Bartlomiej Tywoniuk
AU  - Tomáš Hartman
AU  - Tanja Stimpel-Lindner
AU  - Zdeněk Sofer
AU  - Niall McEvoy
AU  - Georg S. Duesberg
AU  - Claudia Backes
PY  - 2020
UR  - https://arxiv.org/abs/2006.04165
ID  - 2006.04165
ER  -