TY  - RPRT
TI  - Electronic Origin for the Enhanced Thermoelectric Efficiency of Cu2Se
AU  - Shucui Sun
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AU  - Yujie Chen
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AU  - Lu Kang
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AU  - Zhengguo Wang
AU  - Yan Zhang
AU  - Zhongkai Liu
AU  - Lexian Yang
AU  - Yulin Chen
PY  - 2020
DO  - 10.1016/j.scib.2020.07.007
UR  - https://arxiv.org/abs/2006.06260
ID  - 2006.06260
ER  -