TY  - RPRT
TI  - Characterization of the T center in $^{28}$Si
AU  - L. Bergeron
AU  - C. Chartrand
AU  - A. T. K. Kurkjian
AU  - K. J. Morse
AU  - H. Riemann
AU  - N. V. Abrosimov
AU  - P. Becker
AU  - H. -J. Pohl
AU  - M. L. W. Thewalt
AU  - S. Simmons
PY  - 2020
UR  - https://arxiv.org/abs/2006.08794
ID  - 2006.08794
ER  -