TY  - RPRT
TI  - On the structure and electronic properties of Fe$_2$V$_{0.8}$W$_{0.2}$Al thin films
AU  - E. Alleno
AU  - A. Berche
AU  - J. -C. Crivello
AU  - A. Diack Rasselio
AU  - P. Jund
PY  - 2020
DO  - 10.1039/d0cp03738a
UR  - https://arxiv.org/abs/2006.11003
ID  - 2006.11003
ER  -