TY  - RPRT
TI  - Beam damage of single semiconductor nanowires during X-ray nano beam diffraction experiments
AU  - Ali AlHassan
AU  - Jonas Lähnemann
AU  - Arman Davtyan
AU  - Mahmoud Al-Humaidi
AU  - Jesús Herranz
AU  - Danial Bahrami
AU  - Taseer Anjum
AU  - Florian Bertram
AU  - Arka Bikash Dey
AU  - Lutz Geelhaar
AU  - Ullrich Pietsch
PY  - 2020
DO  - 10.1107/s1600577520009789
UR  - https://arxiv.org/abs/2006.11920
ID  - 2006.11920
ER  -