TY  - RPRT
TI  - Conductive filament evolution dynamics revealed by cryogenic (1.5 K) multilevel switching of CMOS-compatible Al2O3/TiO2 resistive memories
AU  - Yann Beilliard
AU  - François Paquette
AU  - Frédéric Brousseau
AU  - Serge Ecoffey
AU  - Fabien Alibart
AU  - Dominique Drouin
PY  - 2020
DO  - 10.1088/1361-6528/aba6b4
UR  - https://arxiv.org/abs/2006.13394
ID  - 2006.13394
ER  -