TY  - RPRT
TI  - Negative Capacitance Enables FinFET Scaling Beyond 3nm Node
AU  - Ming-Yen Kao
AU  - Harshit Agarwal
AU  - Yu-Hung Liao
AU  - Suraj Cheema
AU  - Avirup Dasgupta
AU  - Pragya Kushwaha
AU  - Ava Tan
AU  - Sayeef Salahuddin
AU  - Chenming Hu
PY  - 2020
DO  - 10.1016/j.sse.2021.108010
UR  - https://arxiv.org/abs/2007.14448
ID  - 2007.14448
ER  -