TY  - RPRT
TI  - Piezoresistance in defect-engineered silicon
AU  - H. Li
AU  - A. Thayil
AU  - C. T. K. Lew
AU  - M. Filoche
AU  - B. C. Johnson
AU  - J. C. McCallum
AU  - S. Arscott
AU  - A. C. H. Rowe
PY  - 2021
DO  - 10.1103/physrevapplied.15.014046
UR  - https://arxiv.org/abs/2008.04788
ID  - 2008.04788
ER  -