TY  - RPRT
TI  - Van der Waals Layered Ferroelectric CuInP2S6: Physical Properties and Device Applications
AU  - Shuang Zhou
AU  - Lu You
AU  - Hailin Zhou
AU  - Yong Pu
AU  - Zhigang Gui
AU  - Junling Wang
PY  - 2020
UR  - https://arxiv.org/abs/2009.02097
ID  - 2009.02097
ER  -