TY  - RPRT
TI  - Optical-based thickness measurement of MoO$_3$ nanosheets
AU  - Sergio Puebla
AU  - Antonio Mariscal-Jiménez
AU  - Rosalía Serna Galán
AU  - Carmen Munuera
AU  - Andres Castellanos-Gomez
PY  - 2020
DO  - 10.3390/nano10071272
UR  - https://arxiv.org/abs/2009.10495
ID  - 2009.10495
ER  -