TY  - RPRT
TI  - Impact of invasive metal probes on Hall measurements in semiconductor nanostructures
AU  - J. G. Gluschke
AU  - J. Seidl
AU  - H. H. Tan
AU  - C. Jagadish
AU  - P. Caroff
AU  - A. P. Micolich
PY  - 2020
DO  - 10.1039/d0nr04402d
UR  - https://arxiv.org/abs/2010.09883
ID  - 2010.09883
ER  -