TY  - RPRT
TI  - A multi-technique approach to understanding delithiation damage in LiCoO2 thin films
AU  - E. Salagre
AU  - S. Quilez
AU  - R. de Benito
AU  - M. Jaafar
AU  - H. P. van der Meulen
AU  - E. Vasco
AU  - R. Cid
AU  - E. J. Fuller
AU  - A. A. Talin
AU  - P. Segovia
AU  - E. G. Michel
AU  - C. Polop
PY  - 2021
DO  - 10.1038/s41598-021-91051-3
UR  - https://arxiv.org/abs/2010.14346
ID  - 2010.14346
ER  -