TY  - RPRT
TI  - Gate voltage dependence of noise distribution in radio-frequency reflectometry in gallium arsenide quantum dots
AU  - Motoya Shinozaki
AU  - Yui Muto
AU  - Takahito Kitada
AU  - Takashi Nakajima
AU  - Matthieu R. Delbecq
AU  - Jun Yoneda
AU  - Kenta Takeda
AU  - Akito Noiri
AU  - Takumi Ito
AU  - Arne Ludwig
AU  - Andreas D. Wieck
AU  - Seigo Tarucha
AU  - Tomohiro Otsuka
PY  - 2021
DO  - 10.35848/1882-0786/abe41f
UR  - https://arxiv.org/abs/2012.04177
ID  - 2012.04177
ER  -