TY  - RPRT
TI  - Investigation of microwave loss induced by oxide regrowth in high-Q Nb resonators
AU  - J. Verjauw
AU  - A. Potočnik
AU  - M. Mongillo
AU  - R. Acharya
AU  - F. Mohiyaddin
AU  - G. Simion
AU  - A. Pacco
AU  - Ts. Ivanov
AU  - D. Wan
AU  - A. Vanleenhove
AU  - L. Souriau
AU  - J. Jussot
AU  - A. Thiam
AU  - J. Swerts
AU  - X. Piao
AU  - S. Couet
AU  - M. Heyns
AU  - B. Govoreanu
AU  - I. Radu
PY  - 2020
DO  - 10.1103/physrevapplied.16.014018
UR  - https://arxiv.org/abs/2012.10761
ID  - 2012.10761
ER  -