TY  - RPRT
TI  - Stress measurements in silicon photonics by integrated Raman spectroscopy
AU  - Guillaume Marcaud
AU  - Mathias Berciano
AU  - Christian Lafforgue
AU  - Carlos Alonso-Ramos
AU  - Xavier Le Roux
AU  - Thomas Maroutian
AU  - Guillaume Agnus
AU  - Pascal Aubert
AU  - Ludovic Largeau
AU  - Eric Cassan
AU  - Sylvia Matzen
AU  - Delphine Marris-Morini
AU  - Philippe Lecoeur
AU  - Laurent Vivien
PY  - 2020
UR  - https://arxiv.org/abs/2012.13336
ID  - 2012.13336
ER  -