TY  - RPRT
TI  - Hard x-ray photoemission study on strain effect in LaNiO$_3$ thin films
AU  - K. Yamagami
AU  - K. Ikeda
AU  - A. Hariki
AU  - Y. Zhang
AU  - A. Yasui
AU  - Y. Takagi
AU  - Y. Hotta
AU  - T. Katase
AU  - T. Kamiya
AU  - H. Wadati
PY  - 2021
DO  - 10.1063/5.0044047
UR  - https://arxiv.org/abs/2103.09208
ID  - 2103.09208
ER  -