TY  - RPRT
TI  - Cryogenic Modeling of MOSFET Device Based on BSIM and EKV Models
AU  - Tengteng Lu
AU  - Yuanke Zhang
AU  - Yujing Zhang
AU  - Jun Xu
AU  - Guoping Guo
AU  - Chao Luo
PY  - 2021
UR  - https://arxiv.org/abs/2104.08467
ID  - 2104.08467
ER  -