TY  - RPRT
TI  - Hot Carrier Degradation in MOSFETs at Cryogenic Temperatures Down to 4.2 K
AU  - Yuanke Zhang
AU  - Chao Luo
AU  - Tengteng Lu
AU  - Yujing Zhang
AU  - Jun Xu
AU  - Guoping Guo
PY  - 2021
UR  - https://arxiv.org/abs/2104.12165
ID  - 2104.12165
ER  -