TY  - RPRT
TI  - Growth and Characterisation Studies of Eu$_3$O$_4$ Thin Films Grown on Si/SiO$_2$ and Graphene
AU  - R. O. M. Aboljadayel
AU  - A. Ionescu
AU  - O. J. Burton
AU  - G. Cheglakov
AU  - S. Hofmann
AU  - C. H. W. Barnes
PY  - 2021
DO  - 10.3390/nano11061598
UR  - https://arxiv.org/abs/2105.02705
ID  - 2105.02705
ER  -