TY  - RPRT
TI  - A Measurement Study on the (In)security of End-of-Life (EoL) Embedded Devices
AU  - Dingding Wang
AU  - Muhui Jiang
AU  - Rui Chang
AU  - Yajin Zhou
AU  - Baolei Hou
AU  - Xiapu Luo
AU  - Lei Wu
AU  - Kui Ren
PY  - 2021
UR  - https://arxiv.org/abs/2105.14298
ID  - 2105.14298
ER  -